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NGI恩智N8064B 可編程電阻卡絕緣電阻模擬高壓可編程電阻卡 N8064B 為單通道可編程電阻卡，Z高耐壓高達(dá) 1000V。其電阻可選設(shè)定范圍為1Ω~61MΩ，針對不同的應(yīng)用場合，用戶可以靈活設(shè)定不同的阻值。使用過程中需要增加風(fēng)扇來促進(jìn)電阻散熱，輸入總功率不得超過 3W。
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NGI恩智N8064A可編程電阻卡

更新時間：2023-12-06

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NGI恩智N8064A可編程電阻卡可編程多通道電阻（溫度模擬）卡 N8064A可編程多通道電阻卡支持Z多6通道/8位分辨率的可編程電阻。針對不同的應(yīng)用場合，靈活的設(shè)計架構(gòu)允許板卡支持12位、16位或24位分辨率，以及更大的電阻值。N8064A非常適合模擬阻性傳感器和用作系統(tǒng)測試仿真，允許用戶在設(shè)計階段或生產(chǎn)測試時驗證系統(tǒng)響應(yīng)。
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NGI恩智NXI-5100系列可編程電阻卡

更新時間：2023-12-06

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NGI恩智NXI-5100系列可編程電阻卡 NXI-5100系列是一款支持LAN總線控制的高密度多通道可編程電阻卡。其電阻可選范圍：0Ω~11.11MΩ，電阻精度高達(dá)0.1%，針對不同的應(yīng)用場合，靈活的設(shè)計架構(gòu)支持單張板卡支持8、12、16、24通道，并提供對應(yīng)等級的電阻分辨率，Z高可達(dá)1Ω，以適應(yīng)不同測試場景的需求。NXI-5100系列非常適合模擬阻性傳感器和用作系統(tǒng)測試仿真。
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NGI恩智N8062B 信號調(diào)理卡

更新時間：2023-12-06

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NGI恩智N8062B 信號調(diào)理卡抗干擾寬范圍小信號調(diào)理 N8062B為信號調(diào)理卡，可將400VDC或280VAC電壓調(diào)理至±5V。具有電壓范圍寬、線性度高、抗干擾能力強、穩(wěn)定度高，方便集成等特點，可配合N8062A數(shù)據(jù)采集卡使用。
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NGI恩智N8150A 線束瞬斷測量卡

更新時間：2023-12-06

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NGI恩智N8150A 線束瞬斷測量卡線束連接可靠性試驗和檢測應(yīng)用場景 N8150A為線束連接器可靠性測試專用板卡，可用于檢測線束連接器在不同溫度和振動強度下的連接可靠性。N8150符合汽車行業(yè)瞬間斷路相關(guān)測試標(biāo)準(zhǔn)，具有超高連接電阻采樣精度和高達(dá)10MSps以上采樣率。可廣泛應(yīng)用于汽車、船舶、航空航天、醫(yī)療器械等相關(guān)領(lǐng)域線束連接可靠性實驗和檢測。
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NGI恩智N8130超高采樣率充放電測試卡

更新時間：2023-12-06

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NGI恩智N8130超高采樣率充放電測試卡超高采樣率，超快響應(yīng)速度，超級電容測試bi備 N8130充放電測試卡為NGI公司針對超級電容、電池研發(fā)和生產(chǎn)而自主設(shè)計開發(fā)的新一代專用測試儀器。采樣速度高達(dá)1mS，充轉(zhuǎn)放過程無縫切換，N8130*超級電容、電池充電容量、放電容量、充電等效串聯(lián)內(nèi)阻、放電等效串聯(lián)內(nèi)阻、能量轉(zhuǎn)換效率、循環(huán)壽命等電氣參數(shù)進(jìn)行高精度測試測量。
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NGI恩智N8100A 多通道充放電測試卡

更新時間：2023-12-06

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NGI恩智N8100A 多通道充放電測試卡高集成度超級電容全參數(shù)測試 N8100A多通道充放電測試卡，提供超級電容全參數(shù)測試多種測試方法，用戶可根據(jù)需要靈活選擇。N8100A上位機軟件支持平臺化測試應(yīng)用，用戶可根據(jù)測試工藝和測試流程自行定制測試文件，測試結(jié)果可方便存儲和導(dǎo)出。導(dǎo)出格式可支持?jǐn)?shù)據(jù)庫、EXCEL、JPG文件。適用于超級電容器研發(fā)、生產(chǎn)與品質(zhì)檢測。
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NGI恩智N8091 電子負(fù)載卡

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NGI恩智N8091 電子負(fù)載卡高集成度小體積全功能電子負(fù)載 N8091A小功率可編程直流電子負(fù)載卡，具有高精度、高可靠性、全功能（恒流，恒壓，恒功率，恒電阻）、便于集成等特點。適用于小功率電源、DC轉(zhuǎn)換器、手機充電器、LED電源板生產(chǎn)監(jiān)測等相關(guān)領(lǐng)域。
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